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更新�(shí)間:2025-04-09
IC卡多功能動態(tài)彎扭曲試�(yàn)�(jī) 是一種專門用于測試智能卡(如IC卡、ID�、RFID�、銀行卡等)在動�(tài)彎曲和扭曲條件下的機(jī)械耐久性的�(shè)�。它模擬卡片在日常使用中反復(fù)彎折、扭曲等�(yīng)力作�,評估其抗疲勞性能、芯片及天線連接的可靠��
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IC卡多功能動態(tài)彎扭曲試�(yàn)�(jī)用于檢測磁條�,IC芯片�,集成電路卡,銀行卡、交通卡、工控設(shè)備存儲卡、門禁卡、社保卡等磁�/芯片�(fù)合卡的等卡的動態(tài)彎扭壽命�(yàn)�?的可靠性測�? �
�(yōu)勢:自主�(shè)�(jì)按標(biāo)�(zhǔn)�(zhí)行雙向彎扭性能測試�
IC卡多功能動態(tài)彎扭曲試�(yàn)�(jī)是通過�(jī)械結(jié)�(gòu)對IC卡施�?長邊彎曲�±20mm位移�?�?短邊彎曲�±10mm位移�?,同�(shí)疊加?雙向扭轉(zhuǎn)�±15°角度,總30°�?,模擬卡片在錢包擠壓、頻繁彎折等場景下的動態(tài)�(yīng)力環(huán)�?:在日常使用中會�(jīng)歷反�(fù)彎曲、扭�(zhuǎn)等機(jī)械應(yīng)�,可能導(dǎo)致芯片斷裂、觸�(diǎn)損壞或卡體分�。支�?1~9999次循�(huán)測試?,檢測卡體疲勞壽�、芯�/磁條耐久性及卡基材料抗形變能�?,該試驗(yàn)�(jī)專門用于模擬IC卡在真實(shí)使用�(huán)境中的動�(tài)彎曲+雙向扭轉(zhuǎn)疲勞,評估其�(jī)械耐久性和可靠性�

適用�(biāo)�(zhǔn)?
國內(nèi)�(biāo)�(zhǔn)?:GB/T 16649.1(帶觸點(diǎn)IC卡物理特性)、GB/T 17554.1-2006(通用測試方法�?�
?國際�(biāo)�(zhǔn)?:ISO 10373(智能卡�(jī)械特性)、ISO/IEC 7810(物理特性規(guī)范)
技�(shù)參數(shù)�
1.彎曲位移:長邊:20mm(大�/2mm�?�?/span>
短邊�10mm(大�/1mm(小�
2.扭轉(zhuǎn)角度�±15°�±1° )(雙向總角�30°�,角度調(diào)節(jié)精度±1,雙向d=86 mm�
3.測試速度:彎�/扭轉(zhuǎn)速度30r/min(約0.5Hz�
4.循環(huán)次數(shù)�1~9999次可�(shè)定,支持自動停機(jī)�
5.控制與測量:動態(tài)力示值精�±2%,位移測量精�±0.5%�
6.外形尺寸:L670 X W380 X H220
7.儀器重量:70kg
8.電壓:AC220V±5%
9.� 率:35W
10.長邊彎曲工位�(shù)�5工位
11.短邊彎曲工位�(shù)�5工位
12.雙向扭轉(zhuǎn)工位�(shù)�5工位